atomic force microscopy：原子力显微镜

原子力显微镜（Atomic Force Microscope）是继扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵；现已广泛应用于半导体、纳米功能材料、生物、化工、食品、医药研究和科研院所各种纳米相关学科的研究实验等领域中，成为纳米科学研究的基本工具。原子力显微镜与扫描隧道显微镜相比，由于能观测非导电样品，因此具有更为广泛的适用性。当前在科学研究和工业界广泛使用的扫描力显微镜（Scanning Force Microscope），其基础就是原子力显微镜。

　　AFM可以被用来研究许多领域内的材料问题，包括数据存储、电信、生物技术、化学、以及空间领域内的各种问题。在数据存储方面，可以利用AFM来获得更多的存储容量。目前存储介质的容量都被限制在了20G到50G之间。专家们正在试图通过AFM来帮助提高在40G和300G之间的读写密度。目前还没有能够将这种技术进行商业化的公司，不过IBM以及其他一些公司对此抱有积极态度。

最近更新时间：2009-01-03 EN